關(guān)于IEC
IEC是國(guó)際電工委員會(huì)InternationalElectrotechnicalCommission的縮寫(xiě)，成立于1906年，負(fù)責(zé)有關(guān)電氣工程和電子工程領(lǐng)域中的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化工作。針對(duì)光伏領(lǐng)域擁有自己獨(dú)立的技術(shù)委員會(huì)TC82（Technicalcommittee），成立于1981年，其中在此技術(shù)委員會(huì)中包含多個(gè)工作組WG(workgroup),其中WG2是針對(duì)光伏組件的工作組，負(fù)責(zé)與光伏組件標(biāo)準(zhǔn)制定。
關(guān)于IEC61215的更新內(nèi)容-序列內(nèi)容變更
在老版本61215基礎(chǔ)上補(bǔ)充及變更了一些測(cè)試內(nèi)容，具體的內(nèi)容將做分別的羅列和介紹。
由于測(cè)試序列的變更，老標(biāo)準(zhǔn)整套測(cè)試只需要8片組件，而新標(biāo)準(zhǔn)增加至10片。
在組件初始外觀檢查與功率測(cè)試之間，增加了初始化處理步驟，晶硅組件為預(yù)處理，而薄膜組件不需要進(jìn)行，此部分取代了老版本中的預(yù)處理環(huán)節(jié)。
參考組件由此前的1片增加至3片
原有的NOCT/OD等所在的序列測(cè)試由原有的一個(gè)序列拆分成兩個(gè)序列。分為序列A及序列B，其中序列A3片組件（與參考組件重疊），分別按順序進(jìn)行溫度系數(shù)測(cè)試-STC測(cè)試-NMOT性能-低輻照度性能。序列B1片組件，分別進(jìn)行NMOT及戶(hù)外暴曬試驗(yàn)-旁路二極管測(cè)試-始終化處理（晶硅組件不需要，薄膜組件為光衰處理）
序列C測(cè)試引出端強(qiáng)度測(cè)試定義為線纜和接線盒強(qiáng)度兩個(gè)測(cè)試內(nèi)容
序列C及序列D測(cè)試，在完成測(cè)試后需要進(jìn)行始終化處理（晶硅組件不需要，薄膜組件為光衰處理），完成后STC測(cè)試。
序列E測(cè)試中，冰雹測(cè)試的測(cè)試條件變更
序列中發(fā)生更改及變更的內(nèi)容請(qǐng)參考如下序列圖片供參考：
關(guān)于IEC61215的更新內(nèi)容-測(cè)試條件及其他變更
功率判定規(guī)則變更
冰雹測(cè)試條件變更，比舊版本更加嚴(yán)格，即老標(biāo)準(zhǔn)中，較低測(cè)試條件被刪除。
